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微觀晶體學表征_織構與晶界分析_基于EBSD：電子背散射衍射（EBSD） 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）中實現的、用于分析材料近表面（10-50 nm）微觀晶體結構的強大技術。其基本原理是通過高能電...
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SEM錫須檢測|錫須形貌觀察|成分分析：錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電，以及及光學器件損壞等危害。廣電計量擁有完整的錫須檢查試驗設備，...
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光通信芯片測試|硅光子器件|可靠性驗證：硅光芯片測試是確保硅光芯片性能和質量的關鍵環(huán)節(jié)，廣電計量打造專業(yè)人才隊伍、構建完善的硅光芯片測試體系，助力硅光芯片光通信產業(yè)高速發(fā)展。
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材料表面分析|微區(qū)成分測試|X射線能譜：X射線光電子能譜(XPS)表面分析測試通過元素含量與價態(tài)對比，有效評估封裝基板表面工藝處理效果，并精準檢測器件表面污染情況，提供可靠的表面成分分析數據。
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靜電放電ESD測試-人體模型-接觸放電：靜電放電試驗是電磁兼容測試里面重要的測試項目之一，主要是為了檢驗被測部件抵抗人體靜電的能力，模擬的工況覆蓋搬運、檢修、正常使用等。
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輻射騷擾RE-電磁輻射-空間輻射測試：廣電計量提供專業(yè)的輻射騷擾（RE）測試服務，采用零部件/模塊的輻射發(fā)射—ALSE法（吸收室法），精確測量電子部件通過空間輻射方式對外發(fā)射的電磁干擾，評估其對同一電...
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輻射抗擾度RS-射頻電磁場-抗干擾測試：廣電計量在電磁兼容領域深耕多年，針對輻射抗擾度（RS）測試構建了從仿真分析、標準測試到設計防護的全鏈條服務能力。輻射抗擾度試驗是電磁兼容測試里面使用最多的試驗方...
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傳導騷擾測試-CE-電源端口檢測：廣電計量針對通過線纜連接的各類電子部件，提供全流程的傳導騷擾（CE）測試服務。該測試旨在精準測量電子部件通過線束直接傳導或耦合方式對外發(fā)射的電磁干擾，評估其對同一電磁...
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NG eCall測試-緊急呼叫系統(tǒng)-車載通信：廣電計量始終致力于為汽車產業(yè)鏈企業(yè)提供一站式、國際化、前瞻性的NG eCall檢測認證服務務，可針對主機廠及零部件廠家的產品設計驗證和上市認證需求，提供系...
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