低氣壓試驗(yàn) 高低壓環(huán)境試驗(yàn)，是用設(shè)備模擬高空氣壓環(huán)境，用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。

廣電計(jì)量有多套低氣壓試驗(yàn)箱，可開展單純低氣壓實(shí)驗(yàn)，低氣壓-溫度綜合試驗(yàn)，低壓氣-溫度-濕度綜合試驗(yàn)。

資質(zhì)能力：

通過CNAS認(rèn)可，CMA認(rèn)可。

適用范圍：

廣電計(jì)量低氣壓試驗(yàn) 高低壓環(huán)境試驗(yàn)可為電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的元器件、結(jié)構(gòu)件、組件以及整機(jī)等開展低氣壓實(shí)驗(yàn)。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.27-2005，IEC60068-2-39-1976，GB2423.42-1995，GB2423.102-1995，GB2423.26-2008，IEC60068-2-41-1976，GB2423.21-2008，IEC60068-2-13-1983等。

試驗(yàn)項(xiàng)目：

在試一下中應(yīng)保持下列壓力，其允許差未±5%或±0.1kPa（以大者為準(zhǔn)），在84kPa等級(jí)時(shí)的允差為±2kPa。如下表所示。

3.低氣壓-溫度-濕度綜合試驗(yàn)

溫度－濕度－高度試驗(yàn)條件及步驟如下：

a) 在實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件下對(duì)受試樣品進(jìn)行初始檢測(cè)；

b) 受試樣品斷電，將其放入試驗(yàn)箱內(nèi)，盡可能模擬其實(shí)際安裝使用狀態(tài)；

c) 變化到冷/干——受試樣品不工作，在40min內(nèi)調(diào)節(jié)試驗(yàn)箱的溫度從室溫降至-55℃；

d) 冷/干  浸泡——受試樣品不工作，使受試樣品在溫度為-55℃的條件下保持4h；

e) 冷/干  溫升——以低工作電壓18VDC給受試樣品通電使其工作，然后在10min內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升至-40℃；

f) 冷/干  性能檢查——完成步驟e）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

g) 變化到冷/干  高度——保持受試樣品工作狀態(tài)，在10min內(nèi)將試驗(yàn)箱的壓力由實(shí)驗(yàn)室壓力降低到41.06kPa（對(duì)應(yīng)高度為7000m）；

h) 冷/干  高度——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度-40℃和壓力41.06kPa的條件30min；

i) 變化到溫/濕——在1h內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度升高到32℃，壓力升至實(shí)驗(yàn)室壓力，從不控制濕度變?yōu)橄鄬?duì)濕度到95%；j) 溫/濕  保持——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度32℃、實(shí)驗(yàn)室氣壓和相對(duì)濕度95%的條件30min；

k) 變化到熱/干——將電源電壓調(diào)整為30VDC，在1h內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升高到工作溫度70℃，相對(duì)濕度降低到25%；

l) 熱/干  浸泡——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度70℃和相對(duì)濕度25%的條件2h；

m) 熱/干  性能檢查——完成步驟l）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

n) 變化到熱/干  高度——在10min將試驗(yàn)箱內(nèi)的壓力由實(shí)驗(yàn)室壓力降低到41.06kPa；

o) 熱/干  高度——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度70℃、壓力41.06kPa和相對(duì)濕度25%的條件4h；

p) 熱/干高度  性能檢查——完成步驟o）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

q) 變化到實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件——在30min內(nèi)將試驗(yàn)箱溫度從70℃、壓力從41.06kPa，恢復(fù)到實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件，不控制濕度，變化結(jié)束后，受試樣品停止工作；

r) 步驟c）~步驟q）為一個(gè)完整的循環(huán)，試驗(yàn)共進(jìn)行10個(gè)循環(huán)；

s) 10個(gè)循環(huán)試驗(yàn)結(jié)束后，使受試樣品在實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件下恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)后對(duì)其進(jìn)行最終檢測(cè)。